28aRE-8 シリコン熱膨張係数を利用したX線回折高温炉の温度校正(28aRE X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2009-03-03
著者
-
張 小威
高エネ研物構研
-
山口 博隆
産総研
-
山口 博隆
産総研エレクトロニクス
-
張 小威
高エ研
-
張 小威
高エネ研・物質構造科学
-
岡田 安正
高エネ研・物質構造科学
-
張 小威
高エネ研
-
張 小威
高エネ研・放射光
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