27pSB-9 GEM検出器によるAr-CF_4系ガス中の電子増幅率の測定(27pSB 半導体検出器,MPGD,素粒子実験領域)

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概要

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• 2009-03-03

著者

• 仁藤 修

  東京農工大学工学府物理システム工学専攻

• 藤井 恵介

  高エ研

• 東 貴俊

  佐賀大

• 杉山 晃

  佐賀大

• 房安 貴弘

  長総大

• 小林 誠

  高エ研

• 冨岡 貴

  農工大工

• 仁藤 修

  農工大工

• 渡部 隆史

  工学院大

• 松田 武

  高エ研

• 加藤 幸弘

  近畿大理

• 杉山 晃

  佐賀大理工

• 黒岩 洋敏

  佐賀大理工

• 与那嶺 亮

  総研大

• 房安 貴弘

  長崎総合科学大

• 山口 敦史

  Nict

• 尾藤 宏光

  農工大工

• 坂井 謙太

  農工大工

• 加藤 幸弘

  近幾大理

• 平松 香織

  近幾大理

• 矢津 貴寛

  近幾大理

• 東 貴俊

  佐賀大理工

• 辻 英剛

  佐賀大理工

• 山口 博史

  佐賀大理工

• 富岡 貴

  農工大工

• 山口 敦史

  (独)情報通信研究機構 光・時空標準グループ

• 房安 貴弘

  Nias:open・it Collaboration

• 東 貴俊

  佐賀大学:nias

• 仁藤 修

  東京農工大学工学部物理システム工学科

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