20pSM-3 紫外線レーザーシステムによるLC-TPC用GEMモジュールの性能測定(飛跡検出器・トリガー,素粒子実験領域)
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概要
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- 2013-08-26
著者
-
高橋 徹
広島大先端研
-
杉山 晃
佐賀大
-
渡部 隆史
工学院大
-
杉山 晃
佐賀大理工
-
藤井 恵介
KEK
-
松田 武
KEK
-
加藤 幸弘
近畿大理工
-
川田 真一
広島大院先端研
-
与那嶺 亮
KEK
-
Gros P.
佐賀大理工
-
Junping T.
KEK
-
栗原 達也
東京農工大
-
八川 伶
東京農工大
-
川口 知彦
広島大
-
仁藤 修
東京農工大
-
Zenker K.
DESY
-
川田 真一
広島大
-
高橋 徹
広島大
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