21aPS-13 走査型トンネル顕微鏡によるC_<60>薄膜の局所物性評価(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2005-08-19
著者
-
島田 敏宏
東京大学大学院理学系研究科化学専攻
-
長谷川 哲也
東大院理
-
長谷川 哲也
神奈川科学技術アカデミー
-
島田 敏宏
東大院理
-
眞嶋 秀樹
東工大応セラ研
-
村中 伸滋
東大院理
-
福尾 則学
東工大応セラ研
-
一杉 太郎
東大院理
-
一杉 太郎
東北大wpi材料機構
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