4-1 鉛フリーはんだのイオンマイグレーション過程に対するQCMによる解析
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概要
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電子機器の故障の原因である電極間のイオンマイグレーション(以下マイグレーションと略す)の評価法として、水晶振動子マイクロバランス(QCM)法を適用し、鉛フリーはんだのマイグレーション成長過程をSn-Pb系はんだと比較検討した。その結果、マイグレーションの発生時間はその析出形態に関係しており、Sn-Pb系は直線的な成長をするため発生時間は早く、鉛フリーはんだは平面的成長を示すため、電極間の短絡までの析出量が多く必要となり、発生時間が遅い傾向がある。このことにより、鉛フリーはんだは耐マイグレーション性に優れていることがわかった。
- 日本信頼性学会の論文
- 1999-11-01
著者
-
吉原 佐知雄
宇都宮大学大学院工学研究科エネルギー環境化学専攻
-
白樫 高史
宇都宮大学大学院工学研究科エネルギー環境化学専攻
-
吉原 佐知雄
宇都宮大学 大学院工学研究科
-
吉原 佐知雄
宇都宮大学
-
田中 浩和
宇都宮大学大学院工学研究科
-
植田 文崇
宇都宮大学大学院工学研究科
-
中村 誠
宇都宮大学大学院工学研究科
-
田中 浩和
宇都宮大学大学院
-
白樫 高史
宇都宮大学 大学院工学研究科
-
白樫 高史
宇都宮大学大学院 工学研究科
-
白樫 高史
宇都宮大学
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