超高精細撮像装置における斜め画素ずらしの検討

概要

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我々は, ハイビジョンを超える超高精細撮像装置の開発をめざし, 4板撮像方式を用いた2000ライン撮像実験装置の検討を行っている.すでに, ハイビジョン撮像素子, およびレンズを用い, 垂直解像度を向上した2000ライン撮像実験装置を開発した.今回, 高解像度化に用いる4板撮像方式をさらに効率的なものとするため, 2枚の撮像素子間で斜め方向に画素ずらしを行い, 空間サンプル点を五の目サンプルとする手法を検討し, 水平, 垂直方向の解像度の向上を図った.本論文では, ハイビジョン用2/3インチ200万画素CMD撮像素子を用い, 斜め画素ずらしによる水平, 垂直両方向への高解像度化を検討し, 実際に撮像実験により水平, 垂直方向の限界解像度1300TV本以上を達成し, その効果を確認した.実験にあたり, 多板方式による超高精細化のアプローチについて, 2板画素ずらしによる高精細化と単純な多画素化による高精細化とを比較し, S/N, 感度の点では劣化がなく, ダイナミックレンジの点で有利であることを確認した.さらに, シミュレーションにより2枚の撮像素子のプリズムへの貼合せ位置に誤差が含まれる場合の限界解像曲線を示し, 限界解像度と貼合せ精度の関係についても検討した.
社団法人映像情報メディア学会の論文
1996-08-20

超高精細撮像装置における斜め画素ずらしの検討

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