イオン衝撃による絶縁体からの二次電子放出特性の経時変化(映像入出力および一般)
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概要
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保護層材料を改良することはカラーac-PDPの発光効率を向上させる有効な方法である。イオン衝撃による二次電子放出比(γ_1)の測定は保護層材料を評価する上で不可欠である。本研究では(γ_1)測定を自動化することで精度・再現性を向上させた。信頼性の高くなった装置に用いて、焼結法によって作成した蒸着源を用いた真空蒸着膜の(γ_1)を測定した。この結果(γ_1)がイオン照射時間によって大きく変化することを確認した。また、MgO焼結体による真空蒸着膜はMgO結晶を蒸着源に用いたものと同等以上の(γ_1)を持つことを明らかにした。
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 2002-11-22
著者
-
内池 平樹
佐賀大学理工学部電気電子工学科
-
張 書秀
佐賀大学理工学部電気電子工学科
-
平川 貴義
佐賀大学大学院工学系研究科
-
後藤 貞浩
佐賀大学理工学部電気電子工学科
-
平川 貴義
佐賀大学理工学部電気電子工学科
-
内池 平樹
佐賀大学理工学部
-
後藤 貞浩
パイオニア株式会社研究開発本部PDP開発センター第一開発部
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