複合酸化物のイオン衝撃による二次電子放出特性 : 保護層材料の二次電子放出特性自動計測における回路設計(発光型/非発光型ディスプレイ合同研究会)
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概要
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イオン衝撃による二次電子放出比(γ_i)はプラズマディスプレイの保護層材料を評価する重要な特性の一つである。二次電子を自動計測することで手動計測にない再現性,安定性が得られ、また測定結果の詳細な解析により、保護層材料に対する新しい知見が得られることも期待される。本研究ではパソコンを中核に置いた自動計測装置の製作を目的として、実装にあたっての留意点について検討し、電流電圧回路,及び絶縁アンプを使用した微小電流回路を設計した。
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 2002-01-25
著者
-
内池 平樹
佐賀大学理工学部電気電子工学科
-
平川 貴義
佐賀大学大学院工学系研究科
-
後藤 貞浩
佐賀大学理工学部電気電子工学科
-
平川 貴義
佐賀大学理工学部電気電子工学科
-
内池 平樹
佐賀大学理工学部
-
後藤 貞浩
パイオニア株式会社研究開発本部PDP開発センター第一開発部
-
久保 康一
佐賀大学理工学部電気電子工学科
-
久保 康一
佐賀大学 理工学部 電気電子工学科
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