EID2000-4 PDP用蛍光体の高速原子線衝撃による劣化について
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概要
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プラズマディスプレイパネル(PDP)用蛍光体では、パネル駆動時において青色蛍光体の劣化率が大きく劣化改善が課題となっている^<1)>。PDP放電環境下では、プラズマ、真空紫外線、及び荷電・無荷電粒子により蛍光体が劣化していると考えられる。高速原子線衝撃(FAB)装置を用いて、Ar原子を照射し各色の蛍光体の劣化試験を行った。また、FAB劣化後の各蛍光体をアニールし劣化の回復を調べた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-06-15
著者
-
張 書秀
佐賀大学理工学部電気電子工学科
-
張 書秀
大電株式会社 機能材料開発室
-
藤井 英貴
大電株式会社機能材料開発室
-
大西 孝之
大電株式会社機能材料開発室
-
國分 正孝
大電株式会社機能材料開発室
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