回路合成手法による光回路構造パラメータ測定法
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概要
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神宮寺・河内は伝達函数行列要素の零点から構成回路要素の・位相差を切り出す光回路合成法を発見その有効性を機能光回路合成で示した。光回路は各構成要素位相シフト量や結合度の測定が困難で製作誤差の把握方法の開拓が望まれている。今回、我々はこの回路合成手法を光回路の構造パラメータの測定に適用し、その有効性を確認した。更に伝達函数行列要素パワースペクトル測定における不確定性の除去について言及する。また、この手法は光伝送路の伝達函数行列による表現法としてPMD解析にも有効である。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-09-26
著者
-
小関 健
上智大学理工学部
-
荒木 則幸
日本電信電話株式会社nttアクセスサービスシステム研究所
-
工藤 輝彦
上智大学理工学部電気電子工学科
-
工藤 輝彦
上智大学理工学部情報処理工学科
-
荒木 則幸
上智大学理工学部電気電子工学科
-
工藤 輝彦
上智大学理工学部 情報理工学科
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