AWG波長多重素子の光伝達関数行列の測定評価
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概要
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大容量伝送時代に向け、AWG-MUXはますます重要になってくる。AWG波長多重素子の偏波特性を光伝達関数を用いて評価する。まず光回路の複素伝達関数行列での記述法を示し、複素偏波モード分散、偏波依存損失がそれぞれ偏波微分オペレータの固有値と電力散逸オペレータの固有値から求まることを述べる。また伝達関数の測定法を示し、実際AWG-MUXの伝達関数を測定し、AWG-MUX偏波特性、複素PMD、PDLを示す。またAWG-MUXにおけるアイ図形劣化を、測定した複素伝達関数を用いてもとめ、複素PMDがアイ劣化の評価として一般的なメジャーであることを示す。最後にPMDによるアイ図形劣化を定量的に示す。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-04-16
著者
-
小関 健
上智大学理工学部
-
清水 健司
上智大学理工学部電気電子工学科
-
工藤 輝彦
上智大学理工学部電気電子工学科
-
原田 一成
上智大学理工学部電気電子工学科
-
菅野 信広
上智大学理工学部電気電子工学科
-
工藤 輝彦
上智大学理工学部情報処理工学科
-
工藤 輝彦
上智大学理工学部 情報理工学科
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