SC形,DS形,MU形光コネクタの塵埃試験結果
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概要
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光コネクタが通信事業に導入されて既に10年以上の年月が経過している.また,Fiber to the Homeが本格化するにつれ伝送・交換装置を収容するビル内ではさらに大量の光コネクタが導入される状況にある.このような光コネクタを用いる局内の通信機器の長期の保守を考えた場合,光コネクタの塵埃による特性劣化の可能性も考慮する必要がある.ここでは,局内で主に用いられているSC形,DS形,MU形の光コネクタに対し塵埃試験を行ったのでその結果を以下に報告する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-09-18
著者
-
岩野 真一
NTT光エレクトロニクス研究所
-
長瀬 亮
NTT光エレクトロニクス研究所
-
三田地 成幸
NTT光エレクトロニクス研究所
-
岩野 真一
NTTアドバンステクノロジ
-
三田地 成幸
東京工科大学バイオニクス学部
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