OLCRによるエルビウム添加石英系導波路型光増幅器のゲイン分布測定
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概要
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エルビウム添加石英系導波路型光増幅器は, 超高速光通信システム等の高度通信システムを構築するアクティブデバイスとして注目されている。これまで, WDMカプラを集積化したタイプ等の種々の石英系光増幅器デバイスの作成例が報告されてきたが, 導波路内の信号光の伝搬特性についての報告例は極めて少ない。今回, 低コヒーレンスリフレクトメータ (OLCR)を用いて後方レーリイ散乱分布を測定することにより, 石英系導波路型光増幅器のゲイン分布を測定することに初めて成功したので, その結果について報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-06
著者
-
三田地 成幸
NTT光エレクトロニクス研究所
-
山田 裕朗
NTT光エレクトロニクス研究所
-
高田 和正
NTT光エレクトロニクス研究所
-
高田 和正
Nttフォトニクス研究所
-
山田 裕朗
NTTフオトニクス研究所
-
小熊 学
NTT光エレクトロニクス研究所
-
Golling Mattias
ウルム大学工学部
-
三田地 成幸
東京工科大学バイオニクス学部
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