500MHzパイプライン動作の1Mb-CMOS-SRAM
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
ランダムRead/Writeパイプライン動作可能な1Mbit (32 Kword×32bit)シンクロナスCMOS-SRAMの回路技術を検討した。低消費電力、高周波数動作を実現するために、セルフタイムロジック方式、多階層ブロック選択アーキテクチャ、パルスワード線方式による低セルレシオ化、ビット線方向に短いセルレイアウトを提案した。これらの回路技術と、0.35μmルール、3層メタル配線を用いてSRAMを設計し、シミュレーションした結果、電源電圧2.5Vで、平均消費電力525mW、動作周波数500MHzが可能なことを確認した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-05-23
著者
-
樋口 剛
富士通株式会社 半導体第2事業本部
-
樋口 剛
富士通株式会社
-
宮保 徹
富士通株式会社DRAM事業部
-
松宮 正人
富士通(株)DRAM事業部
-
古賀 徹
富士通(株)DRAM事業部
-
馬渕 修次
富士通VLSI株式会社
-
古賀 徹
富士通株式会社
-
松宮 正人
富士通株式会社
-
宮保 徹
富士通株式会社
関連論文
- 独立冗長セルアレイ方式を採用した256Mb DRAM
- グランドレベルプリチャージと非昇圧ワード線を用いた1 Gb SDRAMの開発
- グランドレベルプリチャージと非昇圧ワード線を用いた1Gb SDRAMの開発
- 高速・低消費電力DRAMのためのビット線をプリチャージしないセンス方式
- 高速・低消費電力DRAMのためのビット線をプリチャージしないセンス方式
- 高速・低消費電力DRAMのためのビット線をプリチャージしないセンス方式
- DRAMのリフレッシュ特性を改善するためのセンス技術
- 基準電圧の選択幅が広い入力バッファ回路
- 500MHzパイプライン動作の1Mb-CMOS-SRAM
- 薄膜a-Siスルーチャネルドーピングを用いたMOSFETの回路性能への影響
- 加速線源を用いたSRAMソフトエラー評価におけるデバイス内分布
- 高抵抗負荷型相似セルを用いたソフトエラー評価