OPE2000-36 / LQE2000-30 モード同期半導体レーザによる分周光クロック抽出の高安定化
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概要
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モード同期半導体レーザ(MLLD)を用いた2段階の分周光クロック抽出により、位相の安定性に優れた分周光クロック抽出を実現した。本手法は、初段で、データ光の周波数と同一周波数のMLLDで光クロック抽出を行い、さらに次の段で、その光出力を分周周波数のMLLDに注入する構成をとる。この構成により、位相が安定した分周光クロック抽出を可能とする周波数離調のトレランスが向上し、最終的に得られる抽出光クロック光の相対雑音強度を十分低い値に抑制可能となった。さらに、本手法による分周光クロック抽出と、可飽和吸収体(SA)光ゲートとを組み合わせて、40から10Gbpsへの全光DEMUXを行いエラーフリーの動作を得た。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-06-30
著者
-
横山 弘之
東北大学未来科学技術共同研究センター
-
橋本 陽一
電子情報通信学会:日本電気株式会社ネットワーキング研究所
-
小倉 一郎
NEC光・超高周波デバイス研究所
-
栗田 寿一
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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橋本 陽一
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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栗田 寿一
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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小倉 一郎
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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横山 弘之
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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小倉 一郎
グリーンイノベーション研究所
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