超高速モード同期半導体レーザの縦モード線幅とその強度雑音特性の測定(半導体レーザ及び光パッシブコンポネント, 及び一般)

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概要

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• 次世代の超高速光通信用パルス光源としてモード同期半導体レーザ(MLLD)の研究開発が盛んに行われている.最近ではGHz帯でのトランスフォームリミットなピコ秒パルス光源に関する様々な報告があるが、レーザ出力パルスの揺らぎを把握するためには,パルスを構成する縦モードの線幅・強度雑音の情報が大変重要である。本研究では繰り返し周波数が10GHzおよび40GHzの作製法の異なるMLLDの発振縦モードの線幅および強度雑音について詳細に測定し、新たな知見を得たので報告する。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2003-12-11

著者

• 中沢 正隆

  東北大学電気通信研究所

• 小川 洋

  沖電気工業(株)研究開発本部 半導体技術研究所

• 小川 洋

  沖電気工業(株)研究開発本部 先端デバイスラボラトリ

• 吉田 真人

  東北大学電気通信研究所

• 横山 弘之

  東北大学未来科学技術共同研究センター

• 小川 洋

  沖電気工業株式会社occ研究開発部

• 羽根田 健太郎

  東北大学電気通信研究所

• 小川 洋

  沖電気工業 (株) 研究開発本部

• 横山 弘之

  東北大学未来科学技術共同センター(niche)

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