横山 弘之 | 東北大学未来科学技術共同研究センター
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概要
関連著者
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横山 弘之
東北大学未来科学技術共同研究センター
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小倉 一郎
NEC光・超高周波デバイス研究所
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小倉 一郎
グリーンイノベーション研究所
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清水 隆徳
NEC光・超高周波デバイス研究所
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栗田 寿一
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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栗田 寿一
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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橋本 陽一
電子情報通信学会:日本電気株式会社ネットワーキング研究所
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山田 博仁
電子情報通信学会:日本電気株式会社基礎研究所
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白根 昌之
Nec基礎・環境研究所
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横山 弘之
日本電気(株)光エレクトロニクス研究所
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横山 弘之
東北大学未来科学技術共同センター(niche)
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中沢 正隆
東北大学電気通信研究所
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小川 洋
沖電気工業(株)研究開発本部 半導体技術研究所
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小川 洋
沖電気工業(株)研究開発本部 先端デバイスラボラトリ
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吉田 真人
東北大学電気通信研究所
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矢野 隆
日本電気株式会社光ネットワーク事業部
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小野 隆志
Necネットワーキング研究所
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小野 隆志
Necビジネスイノベーションセンター
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佐々木 達也
Necシステムデバイス研究所
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佐々木 達也
日本電気(株)システムデバイス・基礎研究本部
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横山 弘之
NEC光・超高周波デバイス研究所
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小川 洋
沖電気工業株式会社occ研究開発部
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羽根田 健太郎
東北大学電気通信研究所
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小川 洋
沖電気工業 (株) 研究開発本部
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小倉 一郎
Nec 光・無線デバイス研
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佐々木 達也
NEC光・無線デバイス研究所
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小倉 一郎
日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
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横山 弘之
NEC光エレクトロニクス研究所
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小倉 一郎
日本電気(株)システムプラットフォーム研究所
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橋本 陽一
日本電気(株)システムプラットフォーム研究所
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横山 弘之
NEC 光無線研
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栗田 寿一
NEC光・超高周波デバイス研究所
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山田 博仁
NEC光・超高周波デバイス研究所
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栗田 寿一
日本電気(株)システムデバイス・基礎研究本部
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清水 隆徳
NEC光エレクトロニクス研究所
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横山 弘之
Nec 光・超高周波デバイス研究所
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小倉 一郎
Nec光エレクトロニクス研究所
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白根 昌之
日本電気(株)基礎研究所
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山田 博仁
日本電気(株)基礎研究所
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橋本 陽一
NEC光・超高周波デバイス研究所
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栗田 寿一
NEC光エレクトロニクス研究所
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王 興龍
日本電気 (株) 光エレクトロニクス研究所
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王 興龍
日本電気光エレクトロニクス研究所
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大平 孝
ATR環境適応通信研究所
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小野 隆志
NEC光エレクトロニクス研究所
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矢野 隆
NEC光エレクトロニクス研究所
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小倉 一郎
Nec 光・無線デバイス研究所
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稲垣 惠三
ATR環境適応通信研究所
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稲垣 恵三
Atr適応コミュニケーション研究所
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清水 隆徳
日本電気(株)光エレクトロニクス研究所
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白根 昌之
電子情報通信学会
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山田 博仁
電子情報通信学会
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白根 昌之
NEC 光無線研
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橋本 陽一
NEC 光無線研
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山田 博仁
NEC 光無線研
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白根 昌之
NEC光・超高周波デバイス研究所
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小楠 正大
東芝研究開発センター
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橋本 陽一
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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小倉 一郎
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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横山 弘之
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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橋本 陽一
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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小倉 一郎
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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横山 弘之
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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橋本 陽一
筑波大学物理学系
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横山 弘之
日本電気 (株) 光エレクトロニクス研究所
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清水 隆徳
日本電気 (株) 光エレクトロニクス研究所
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小野 隆志
日本電気 (株) 光エレクトロニクス研究所
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矢野 隆
日本電気 (株) 光エレクトロニクス研究所
-
矢野 隆
NEC 光エレクトロニクス研究所
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清水 隆徳
NEC 光エレクトロニクス研究所
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小野 隆志
NEC 光エレクトロニクス研究所
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横山 弘之
日本電気エレクトロニクス研究所
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清水 隆徳
日本電気エレクトロニクス研究所
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小野 隆志
日本電気エレクトロニクス研究所
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矢野 隆
日本電気エレクトロニクス研究所
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清水 隆徳
日本電気光エレクトロニクス研究所
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横山 弘之
日本電気光エレクトロニクス研究所
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小楠 正大
Atr環境適応通信研究所
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稲垣 惠三
Atr環境適応通信研
著作論文
- モード同期半導体レーザを用いた光サンプリング技術
- SC-4-1 高安定モード同期半導体レーザによる超高速光通信・光計測
- モード同期半導体レーザーを用いた光サンプリング計測
- B-10-150 モード同期半導体レーザを用いた光サンプリングによる160 Gbps信号アイパタン測定
- SC-3-5 モード同期半導体レーザの超高速光通信技術への展開
- B-5-219 モード同期レーザをマスタとした波長多重ミリ波光信号源の検討
- B-10-151 2段階構成の分周全光クロック抽出とその光DEMUX応用
- C-3-123 モード同期半導体レーザの高精度周波数制御と高速光通信・全光信号処理への応用
- OPE2000-36 / LQE2000-30 モード同期半導体レーザによる分周光クロック抽出の高安定化
- OPE2000-36 / LQE2000-30 モード同期半導体レーザによる分周光クロック抽出の高安定化
- B-10-49 モノリシックモード同期半導体レーザを用いた40GHz SDH周波数光クロック抽出
- C-4-18 周波数チューニングによるモード同期半導体レーザのSDH周波数動作
- モード同期半導体レーザーによる超高速信号処理
- モード同期半導体レーザを利用した超高速光信号処理
- モード同期半導体レーザを用いた超高速光信号処理 : 超高速光クロック抽出および光DEMUX
- モード同期半導体レーザーの安定化と超高速化
- 半導体レーザによる超高速光パルスの生成と制御
- 基準クロック光注入によるモード同期LDの低ジッタ化
- モノリシックモード同期LDを用いた10Gb/s光クロック抽出実験
- 10GHzモノリシックモード同期半導体レーザの電気的および光学的能動制御
- 非対称型衝突パルスモード同期半導体レーザによる光パルス列の高繰り返し周波数化
- GHz帯超高速モード同期半導体レーザの縦モード線幅とその相対強度雑音特性の測定(レーザ・量子エレクトロニクス)
- 超高速モード同期半導体レーザの縦モード線幅とその強度雑音特性の測定(半導体レーザ及び光パッシブコンポネント, 及び一般)
- 超高速モード同期半導体レーザの縦モード線幅とその強度雑音特性の測定(半導体レーザ及び光パッシブコンポネント, 及び一般)
- C-4-24 モード同期半導体レーザの縦モード線幅およびその強度雑音の測定