橋本 陽一 | 電子情報通信学会:日本電気株式会社ネットワーキング研究所
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概要
関連著者
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横山 弘之
東北大学未来科学技術共同研究センター
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橋本 陽一
電子情報通信学会:日本電気株式会社ネットワーキング研究所
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小倉 一郎
NEC光・超高周波デバイス研究所
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栗田 寿一
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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栗田 寿一
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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小倉 一郎
グリーンイノベーション研究所
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白根 昌之
Nec基礎・環境研究所
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山田 博仁
電子情報通信学会:日本電気株式会社基礎研究所
-
清水 隆徳
NEC光・超高周波デバイス研究所
-
小倉 一郎
日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
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横山 弘之
日本電気(株)光エレクトロニクス研究所
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橋本 陽一
日本電気(株)システムプラットフォーム研究所
-
横山 弘之
NEC光・超高周波デバイス研究所
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栗田 寿一
NEC光・超高周波デバイス研究所
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橋本 陽一
NEC光・超高周波デバイス研究所
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佐々木 達也
Necシステムデバイス研究所
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佐々木 達也
日本電気(株)システムデバイス・基礎研究本部
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佐々木 達也
NEC光・無線デバイス研究所
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小倉 一郎
Nec光エレクトロニクス研究所
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横山 弘之
NEC光エレクトロニクス研究所
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小倉 一郎
日本電気(株)システムプラットフォーム研究所
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白根 昌之
電子情報通信学会
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山田 博仁
電子情報通信学会
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白根 昌之
日本電気(株)基礎研究所
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山田 博仁
日本電気(株)基礎研究所
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白根 昌之
NEC 光無線研
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橋本 陽一
NEC 光無線研
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山田 博仁
NEC 光無線研
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横山 弘之
NEC 光無線研
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山田 博仁
NEC光・超高周波デバイス研究所
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白根 昌之
NEC光・超高周波デバイス研究所
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栗田 寿一
日本電気(株)システムデバイス・基礎研究本部
-
橋本 陽一
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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小倉 一郎
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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横山 弘之
NECシステムデバイス・基礎研究本部
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橋本 陽一
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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小倉 一郎
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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横山 弘之
NEC システムデバイス・基礎研究本部
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栗田 寿一
NEC光エレクトロニクス研究所
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清水 隆徳
NEC光エレクトロニクス研究所
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橋本 陽一
筑波大学物理学系
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横山 弘之
Nec 光・超高周波デバイス研究所
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小倉 一郎
Nec 光・無線デバイス研
-
横山 弘之
東北大学未来科学技術共同センター(niche)
著作論文
- モード同期半導体レーザを用いた光サンプリング技術
- モード同期半導体レーザーを用いた光サンプリング計測
- B-10-150 モード同期半導体レーザを用いた光サンプリングによる160 Gbps信号アイパタン測定
- SC-3-5 モード同期半導体レーザの超高速光通信技術への展開
- B-10-151 2段階構成の分周全光クロック抽出とその光DEMUX応用
- OPE2000-36 / LQE2000-30 モード同期半導体レーザによる分周光クロック抽出の高安定化
- OPE2000-36 / LQE2000-30 モード同期半導体レーザによる分周光クロック抽出の高安定化
- モード同期半導体レーザーによる超高速信号処理
- モード同期半導体レーザを用いた超高速光信号処理 : 超高速光クロック抽出および光DEMUX