ポリイミド光モジュールの信頼性(光部品の実装,信頼性)
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概要
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通信の大容量化に伴い、LAN系、アクセス系では、低コストで作製できる4〜16chの合分波モジュール、及び、任意地点において波長単位で光信号の分岐、挿入を行うAdd/drop Module(ADM)が必要とされている。我々は耐熱性に優れたフッ素化ポリイミド導波路の導波路交差部に誘電体多層膜フィルタを挿入した安価でかつ簡易に作製できるADMやWavelength Division Multiplexer(WDM)の光モジュールの開発を行ってきた。これらのうち、ADMでは挿入損失の温度依存性(-25℃〜70℃)及び湿度依存性(30%RH〜90%RH)を評価し、損失変化が±0.5dB以下であり、温度や湿度変化に対する損失変動は小さいことを明らかにした。また、4ch-WWDMでは、長期のヒートサイクル(-10℃〜60℃)及び温熱試験(43℃,93%RH)を実施した。その結果、500CYCLEのヒートサイクル試験及び1900時間の温熱試験での損失変化量は、それぞれ±1dB以下であることを確認し、作製したモジュールが、温度や湿度変化に対する損失変動が小さく、システムに適用可能であることを確認した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-04-16
著者
-
松浦 徹
Nttフォトニクス研究所
-
松浦 徹
Nttアドバンステクノロジ(株) 材料開発&分析センタ
-
川上 直美
NTTアドバンステクノロジ株式会社
-
小林 潤也
NTTフォトニクス研究所
-
疋田 真
NTTアドバンステクノロジ株式会社
-
山本 二三男
NTTアドバンステクノロジ株式会社
-
今村 三郎
NTTアドバンステクノロジ株式会社
-
今村 三郎
Nttアドバンステクノロジ
-
小林 潤也
Ntt フォトニクス研
-
芳賀 由昌
NTTアドバンステクノロジ株式会社ファイバインテグレーション事業部
-
小林 潤也
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
疋田 真
NTTフォトニクス研究所
-
松浦 徹
NTT基礎技術総合研究所
-
疋田 真
Nttアドバンステクノロジ
-
川上 直美
Nttアドバンステクノロジ
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