CCCの逐次診断可能次数の評価
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概要
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N点のcccの逐次診断可能次数は少なくともΩ(VN)であることが知られている。本論文では,N点のcccの逐次診断可能次数の下界と上界がそれぞれΩ(NIog10gN710g2N)とO(N10g10gN/ψ;W)であることを示す.
- 1999-11-10
著者
-
上野 修一
東京工業大学
-
山田 敏規
埼玉大学大学院理工学研究科数理電子情報部門
-
上野 修一
東京工業大学 電子物理工学科
-
山田 敏規
東京工業大学 電子物理工学科
-
山田 敏規
埼玉大
-
渡邊明嗣 山田敏規
東京工業大学電子物理工学科
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