石英系光ファイバ非線形屈折率のGeO_2濃度依存性(長距離・大容量光通信技術論文小特集)

概要

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相互位相変調によりポンプ光がプローブ光にもたらす位相変化を遅延自己ヘテロダインスペクトルから求める非線形屈折率測定法(XPM法)を用いて,SiO_2コアファイバおよび比屈折率差Δ=0.35〜2.2%の範囲の10種類のGeO_2-SiO_2コア/SiO_2クラッドファイバについて非線形屈折率を測定し,光ファイバにおける非線形屈折率n_2のGeO_2濃度依存性を定量的に明らかにした.光ファイバでは,コア断面のGeO_2濃度分布を反映してn_2が断面各部で異なるため,ファイバで観測されるn_2は断面各部のn_2に信号電界強度の4乗の重みを付けて平均化した値になる.本論文では,この関係から光ファイバ非線形屈折率に関する等価GeO_2濃度η_<eff>を定義して,η_<eff>の関数としてn_2を評価した.測定された光ファイバのn_2はη_<eff>に比例して増加しており,η_<eff>の関数としてn_2[×10^<-20>m^2/W]=0.0552η_<eff>[mol%]+2.44で表される.また,光ファイバで測定されたn_2は,半経験的な推定式を用いて線形屈折率データから求めたバルクガラスのn_2と非常に良く一致している.
社団法人電子情報通信学会の論文
1995-12-25