C-8-18 中間層膜厚の異なるダブルバリア超伝導接合の同時製作と外部磁場の二次元走査による接合評価(C-8.超伝導エレクトロニクス)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-03-08
著者
-
中山 明芳
神奈川大学工学部
-
阿部 晋
神奈川大学工学部
-
渡邉 騎通
神奈川大学工学部
-
畔上 昭司
神奈川大学工学部・ハイテクリサーチセンター
-
斉藤 優紀
神奈川大 工
-
相澤 邦守
神奈川大学工学部電気電子情報工学科
-
齋藤 優紀
神奈川大学工学部電気電子情報工学科
-
久保 勝也
神奈川大学工学部電気電子情報工学科
-
渋谷 直樹
神奈川大学工学部電気電子情報工学科
-
東郷 寛司
神奈川大学工学部電気電子情報工学科
-
岩上 祐樹
神奈川大学工学部電気電子情報工学科
-
阿部 晋
神奈川大学
-
畔上 昭司
神奈川大学工学部
-
畔上 昭司
神奈川大学工学部電気電子情報工学科
-
相澤 邦守
神奈川大学工学部:神奈川大学ハイテクリサーチセンター
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