Nb/AlO_x/Nb単一接合およびダブル接合のジョセフソン電流の2次元磁場変調特性
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概要
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超伝導接合を流れるジョセフソン電流は外部から加えた磁場により変調することができる。従来、ジョセフソン素子の変調は外部印加磁界の一次元走査によりフランフオファー特性を測定し、超伝導接合のバリアの一様性を議論してきた。ここでは二対のへルムホルツコイルを用い、接合に加える外部磁場を二次元走査することにより、Nb/AlO_x/Nb単一接合とダブル接合を流れるジョセフソン電流I_cを変調し、外部磁界Hの2つの成分(H_x, H_y)に対するI_cH特性を測定した結果を報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-01-16
著者
-
中山 明芳
神奈川大学工学部
-
阿部 晋
神奈川大学工学部
-
松本 賢三
神奈川大学
-
青木 良太
神奈川大学工学部
-
石川 琢也
神奈川大学工学部電気電子情報工学科
-
石川 琢也
神奈川大学工学部
-
庄司 智子
神奈川大学工学部
-
小口 和也
神奈川大学工学部
-
斉藤 憲久
神奈川大学工学部
-
阿部 晋
神奈川大学
-
松本 賢三
神奈川大学工学部
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