LSIデバイスの良品解析とデータベースによる品質評価
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-03-06
著者
-
岡 克己
沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部
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今井 美樹
沖エンジニアリング株式会社 信頼性技術第1部
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味岡 恒夫
沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部
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田中 大起
沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部
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野田 克史
沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部
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味岡 恒夫
沖エンジニアリング(株)
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野田 克史
沖エンジニアリング(株)
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味岡 恒夫
沖エンジニアリング
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今井 美樹
沖エンジニアリング(株)
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