今井 美樹 | 沖エンジニアリング株式会社 信頼性技術第1部

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関連著者

• 今井 美樹

  沖エンジニアリング株式会社 信頼性技術第1部

• 今井 美樹

  沖エンジニアリング(株)

• 田中 大起

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 味岡 恒夫

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 味岡 恒夫

  沖エンジニアリング(株)

• 味岡 恒夫

  沖エンジニアリング

• 岡 克己

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 野田 克史

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 野田 克史

  沖エンジニアリング(株)

• 久保山 智司

  宇宙開発事業団

• 松田 純夫

  宇宙開発事業団

• 久保山 智司

  宇宙開発事業団技術研究本部技術研究部

• 出口 泰

  宇宙開発事業団

• 細田 克彦

  沖エンジニアリング(株)

• 槙原 亜紀子

  宇宙開発事業団 筑波宇宙センター 技術研究部

• 松田 純夫

  宇宙航空研究開発機構総合技術研究本部

• 出口 泰

  宇宙開発事業団 筑波宇宙センター 技術研究部

• ・原 亜紀子

  宇宙開発事業団

• 松田 純夫

  宇宙開発事業団技術研究本部技術研究部

• 細田 克彦

  沖エンジニアリング株式会社 信頼性技術第1部

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著作論文

• LSIデバイスの良品解析とデータベースによる品質評価
• LSIプロセス診断法の開発 : デバイス構造解析を用いた信頼性評価
• 高信頼性のためのLSIプロセス診断 : 良品解析(第5回研究発表会)
• [4-2]LSIプロセス診断技術の開発(3.各セッションの報告 日本信頼性学会 第9回研究発表会報告)
• LSIプロセス診断技術の開発(日本信頼性学会第9回研究発表会)
• LSIプロセス診断の信頼性評価への適用

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