岡 克己 | 沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

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概要

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• 同名の論文著者
• 沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部の論文著者

関連著者

• 岡 克己

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 今井 美樹

  沖エンジニアリング株式会社 信頼性技術第1部

• 味岡 恒夫

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 田中 大起

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 野田 克史

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 味岡 恒夫

  沖エンジニアリング(株)

• 野田 克史

  沖エンジニアリング(株)

• 味岡 恒夫

  沖エンジニアリング

• 今井 美樹

  沖エンジニアリング(株)

著作論文

• LSIデバイスの良品解析とデータベースによる品質評価
• LSIプロセス診断法の開発 : デバイス構造解析を用いた信頼性評価
• 高信頼性のためのLSIプロセス診断 : 良品解析(第5回研究発表会)

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