田中 大起 | 沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

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概要

• 同名の論文著者
• 沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部の論文著者

関連著者

• 田中 大起

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 今井 美樹

  沖エンジニアリング株式会社 信頼性技術第1部

• 今井 美樹

  沖エンジニアリング(株)

• 岡 克己

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 味岡 恒夫

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 野田 克史

  沖エンジニアリング株式会社信頼性技術部

• 味岡 恒夫

  沖エンジニアリング(株)

• 野田 克史

  沖エンジニアリング(株)

• 味岡 恒夫

  沖エンジニアリング

• 久保山 智司

  宇宙開発事業団

• 松田 純夫

  宇宙開発事業団

• 久保山 智司

  宇宙開発事業団技術研究本部技術研究部

• 出口 泰

  宇宙開発事業団

• 細田 克彦

  沖エンジニアリング(株)

• 槙原 亜紀子

  宇宙開発事業団 筑波宇宙センター 技術研究部

• 松田 純夫

  宇宙航空研究開発機構総合技術研究本部

• 出口 泰

  宇宙開発事業団 筑波宇宙センター 技術研究部

• 今井 康雄

  沖エンジニアリング(株) 信頼性ソリューション事業部 信頼性技術第一部

• ・原 亜紀子

  宇宙開発事業団

• 松田 純夫

  宇宙開発事業団技術研究本部技術研究部

• 今井 康雄

  沖エンジニアリング

• 細田 克彦

  沖エンジニアリング株式会社 信頼性技術第1部

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著作論文

• LSIデバイスの良品解析とデータベースによる品質評価
• LSIプロセス診断法の開発 : デバイス構造解析を用いた信頼性評価
• 高信頼性のためのLSIプロセス診断 : 良品解析(第5回研究発表会)
• 電子部品の故障解析および良品解析 : 車載用電子部品の信頼性向上のための取り組み(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
• [4-2]LSIプロセス診断技術の開発(3.各セッションの報告 日本信頼性学会 第9回研究発表会報告)
• LSIプロセス診断技術の開発(日本信頼性学会第9回研究発表会)

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