電子部品の故障解析および良品解析 : 車載用電子部品の信頼性向上のための取り組み(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
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概要
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近年,車載用電子部品の重要は急速に高まり,電子部品の高機能・高性能化に伴い最先端プロセスを用いた半導体部品を使用するようになってきた。信頼性試験や故障解析では検出が難しい潜在欠陥を,新しい良品解析を用いて調査する仕組みが定着してきた。ここでは,その一例を紹介する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-09-07
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