LSIにおけるシグナルインテグリティ問題と対策 : LSI性能の継続的な進化のために
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概要
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シグナルインテグリティ(SI)問題とは信号波形や信号電圧などのひずみや劣化などが引き起す問題で, 今日の半導体デバイスの微細化によるチップ性能向上を妨げている大きな要因である.本稿では, 近年研究開発が盛んなSI現象観測回路に焦点を当てる.この回路はチップ内部に集積され, これまで現象が複雑かつ高速であったため困難であった様々なSI現象の観測を可能にする.本稿では更に, 筆者らが取り組んでいるこの観測結果を最大限に活用することで可能となるLSIの新しい物理設計の可能性に関して述べる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-04-01
著者
-
水野 正之
Necシステムデバイス研究所
-
高宮 真
NECシステムデバイス研究所
-
西 直樹
NECシステムデバイス研究所
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水野 正之
ルネサスエレクトロニクス株式会社技術開発本部
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西 直樹
NECシステムIPコア研究所
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