SrM薄膜に対するCr添加効果と記録再生特性
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概要
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Crを添加したストロンチウムフェライト(SrM-Cr)薄膜の基板温度を変化させたときの磁気特性及び結晶学的性質の変化について検討した。その結果, X線回折ダイアグラムから450℃以上の基板温度で作製したSrM-Cr薄膜はc面からの回折線が観察され完全にc軸配向していた。またCrFe_2O_4の回折線も視察された。このことからCrを添加することでSrM薄膜の結晶配向性が改善されることがわかった。そして飽和磁化が約 150 emu/cm^3であり垂直方向の保磁力が約2.8kOeである基板温度550℃で作製されたSrM-Cr薄膜の記録磁化反転密度D_<50>は約185kfrpiであった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-08-29
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