Sm-Co/Cu薄膜の結晶構造及び磁気特性の層厚依存性(磁気記録)
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概要
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The effects of the thickness of Cu underlayer and Sm-Co layer in Sm-Co/Cu film were studied. When the thickness of Cu underlayer was 200nm, its preferred orientation was (111), and the grain size was as large as 300nm, owing to the substrate heating during the Sm-Co layer deposition. When the Sm-Co layer thickness was as thin as 10nm, an SmCo_5 (002) diffraction line was observed in the XRD diagram, and the perpendicular coercivity was about 6.2 kOe. The magnetic properties of the Sm-Co/Cu film did not show any visible changes for 450 days. It was found from XPS depth profiles that Cu element was diffused into the Sm-Co layer from the underlayer, and may be effective in preventing Sm from oxidizing.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 2005-03-01
著者
-
森迫 昭光
信州大学
-
劉 小晰
信州大学
-
松本 光功
信州大学工学部情報工学科
-
森迫 昭光
信州大学工学部情報工学科
-
松本 光功
信州大学工学部
-
劉 小晰
信州大学工学部
-
武井 重人
信州大学工学部
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上水 孝徳
信州大学工学部
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