SmCo/Cr薄膜の特性に対するCr下地層の効果 (<特集>磁気記録媒体)
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概要
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The properties of SmCo/Cr bilayer films with under-layers prepared at various Ar gas pressures (P_<Ar>) and substrate temperatures (T_s) were studied. When P_<Ar> was increased from 0.13 Pa to 1.06 Pa or T_s was increased from 50℃ to 190℃, the intensity of the X-ray diffraction line from the Cr (110) plane became weak. The coercivity, squareness ratio, and coercivity squareness ratio of the SmCo layer increased with an increase in the intensity of X-ray diffraction. The magnetic properties of the SmCo layer were found to improve according to the emphasized crystal structure of the Cr underlayer.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 1997-04-15
著者
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