面内磁気記録媒体の熱揺らぎに関する実験的検討
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概要
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磁気記録における近年の急速な高密度化は, 再生ヘッドの高感度化と共に媒体の低ノイズ化に負うところが大きい. 媒体ノイズの低減には磁性粒の微細化が有効であるが, あまり微細になると熱揺らぎによる記録磁化の減衰が問題となる. 本研究では, 面内薄膜媒体における熱揺らぎを実験的に評価し, 高記録密度化における, その影響を検討した. 薄膜化により磁性粒を微細化した媒体における再生信号の経時変化から, 熱安定度因子Ku・V/k_B・Tがおよそ100程度以下になると熱揺らぎの影響が大きくなり始めることを確認した. 線記録密度が高い程, 熱揺らぎの影響が大きく, 出力の減衰だけでなくノイズの増大も観測された. さらなる高密度化の為には, 熱揺らぎの影響を考慮したヘッド媒体系の設計が重要になる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-07-04
著者
-
五十嵐 万壽和
(株)日立製作所中央研究所
-
棚橋 究
日立製作所中央研究所
-
細江 譲
(株)日立製作所 研究開発本部 ストレージテクノロジー研究センタ
-
高橋 由夫
(株)日立製作所 研究開発本部 ストレージ・テクノロジー研究センタ
-
玉井 一郎
(株)日立製作所 研究開発本部 ストレージテクノロジー研究センタ
-
五十嵐 万壽和
日立製作所・中央研究所
-
棚橋 究
(株)日立製作所中央研究所
-
矢島 祐介
(株)日立製作所中央研究所
-
山本 朋生
(株)日立製作所中央研究所
-
玉井 三郎
(株)日立製作所 研究開発本部 ストレージテクノロジー研究センタ
-
高橋 由夫
日立 中研
-
高橋 由夫
日立製作所中央研究所
-
高橋 由夫
(株)日立製作所
-
細江 譲
日立 中研
-
五十嵐 万壽和
(株)日立製作所 中央研究所
-
細江 譲
株式会社日立製作所中央研究所
-
棚橋 究
(株)日立製作所 中央研究所 エレクトロニクス研究センタ
-
五十嵐 万壽和
(株)日立製作所
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