ポリフルオレン薄膜における増幅された自然放出光の観測(センサデバイス・MEMS・一般)
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概要
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平面導波路状の高分子半導体薄膜をストライプ状の光で励起することにより,ストライプの両端から増幅された自然放出光(Amplified Spontaneous Emission: ASE)が観測される.ASEの観測は,レーザ媒質としてのゲインおよびロス係数を測定する有力な方法として知られている.本報告では,熱的・化学的に安定で高い蛍光効率を有するフルオレン系高分子poly(9,9-dioctylfluorene)(PFO)薄膜のASEについて報告する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-08-27
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