蛍光測定によるポリフルオレン薄膜の光劣化過程の観察(有機材料,一般)
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概要
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高い効率で青色発光を示すポリフルオレンは、大気中において紫外光照射を行うことで劣化し、G bandと呼ばれる新たな発光帯が現れるとともに蛍光量子収率の低下などが生じる。このG-band発光の起源は、フルオレンの酸化により生じるフルオレノンであることが知られている。本研究では、ポリフルオレンに紫外光照射を行うことにより劣化させながら蛍光測定を行うことで、フルオレンの劣化とフルオレノンの生成過程をリアルタイムで観測した。その結果、フルオレンは非常に早く酸化されるものの、生成したフルオレノンにエネルギー移動が起こるようになりその後の劣化が大幅に抑制されること、また生成したフルオレノンも非常に緩やかではあるが紫外光照射により劣化していくことが分かった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-10-16
著者
-
小林 隆史
大阪府立大学工学部
-
内藤 裕義
大阪府立大学大学院工学研究科
-
小林 隆史
大阪府立大学 工学部
-
Naito H
Univ. Osaka Prefecture Osaka
-
Naito H
College Of Engineering Osaka Prefecture University
-
Naito Hiroyoshi
Department Of Physics And Electronics University Of Osaka Prefecture
-
Naito Hiroyoshi
Department Of Physics And Electronics Osaka Prefecture Univerity
-
永瀬 隆
大阪府立大学工学部電子物理工学科
-
内藤 裕義
大阪府大工
-
永瀬 隆
大阪府大工
-
Naito H
Osaka Prefecture Univ. Osaka Jpn
-
中川 将紀
大阪府立大学大学院工学研究科
-
内藤 裕義
大阪府立大学 先端科学研究所
-
内藤 裕義
大阪府立大学大学院 工学研究科 電子・数物系専攻
-
小林 隆史
大阪府立大学大学院工学研究科:大阪府立大学分子エレクトロニックデバイス研究所
-
永瀬 隆
大阪府立大学大学院工学研究科:大阪府立大学分子エレクトロニックデバイス研究所
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