母集団に混合状態を考慮した選別試験のための実験計画と解析 : ワイブル回帰モデルに基づく試験条件の設定
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概要
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本研究では,スクリーニングテストの処理条件を設定するための実験計画について考察する.良品の中に不良品が入り込む母集団を想定し,良品グループからは故障は生起しないと仮定する.寿命分布にワイブル回帰モデルを適用し,最尤法に基づく解析を行う.不良品除去率が最も高い処理条件,および推定精度の上で最適な観測時点の組み合わせ条件を検討する.また,このモデルをLSIの温度サイクル試験を用いたスクリーニングの試験条件設定問題に適用し,モデルの妥当性の吟味,解析結果および解析手順を示す.
- 社団法人日本品質管理学会の論文
- 1997-04-15
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