全反射全転換電子収量X線吸収微細構造による水溶液表面でのイオンの溶媒和構造解析
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概要
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X線吸収微細構造(XAFS)により様々な試料の局所構造解析が行われ,固体試料表面へ適用した報告例もあるが,水溶液表面でのXAFS測定には多くの制約が伴い,容易には測定できなかった.本論文では水溶液表面への新しいアプローチとして開発した全反射全転換電子収量法(TRTCY)によるXAFS測定の原理,装置について報告する.この方法では,水溶液表面へのX線の照射によって放出されるオージェ電子をとらえ,X線吸収量を見積もることで,表面から10 nm以下の浅い領域を観測している.単分子膜で修飾された水溶液表面は,分離機能や分子認識能などの役割を担ういろいろな界面のモデルと見なすことができるので, TRTCY-XAFS法によって表面単分子膜に引き寄せられた溶存イオンの局所的な濃度や構造の解析結果を紹介する.また,表面膜の分子密度を制御できるTRTCY-XAFS測定装置について概説する.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 2003-06-05
著者
-
谷田 肇
高輝度光科学研究センター
-
谷田 肇
財団法人高輝度光科学研究センター
-
谷田 肇
Jasri
-
谷田 肇
(財)高輝度光科学研究センター 利用促進部門
-
TANIDA Hajime
Japan Synchrotron Radiation Research Institute
-
谷田 肇
(財)高輝度光科学研究センター
-
渡辺 巌
大阪女子大学理学部
-
岡田 哲男
東京工業大学大学院理工学研究科
-
原田 誠
東京工業大学大学院理工学研究科
-
Tanida Hajime
Materials Sci. Div. Japan Synchrotron Radiation Res. Inst.
-
Tanida Hajime
Experimental Facilities Division Japan Synchrotron Radiation Research Institute
-
渡辺 巌
大阪府立大学大学院理学系研究科分子科学専攻
-
渡辺 巌
阪大院理
-
Tanida Hajime
Spring-8 Japan Synchrotron Radiation Research Institute (jasri)
-
岡田 哲男
東京工業大学大学院 理工学研究科化学専攻
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