シンクロトロン放射光を用いたX線吸収スペクトル測定
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 日本分析化学会の論文
- 2005-02-05
著者
関連論文
- 電気化学反応と熱の出入り--ペルチエ効果と電気化学とのかかわり (熱と電気化学)
- 電極反応に伴う電極反応熱と電流の同時測定--掃引速度の高速化のための解析手法
- セラミックスや合金の転換電子収量XAFS(セラミック材料)
- スパッタ成膜した窒化物薄膜のHeイオン収量XAFS法による局所構造解析(セラミック材料)
- 全反射全転換電子収量X線吸収微細構造による水溶液表面でのイオンの溶媒和構造解析
- 気液界面の全反射X線吸収分光
- 光電子を用いた水溶液表面のはかりかた
- 光電子放射分光法-その原理と溶液化学への応用-
- 大気圧Heイオン収量X線吸収微細構造法(XAFS)による薄膜試料の分析
- シナピル及びコニフェニルアルコールのレーザーアブレーションボルタンメトリー
- レーザーアブレーションを用いる新しいボルタンメトリー
- 我々は社会にもっと貢献できるのではなかろうか?
- XAFSを用いた気液界面における単分子膜へのイオン吸着挙動
- シンクロトロン放射光を用いたX線吸収スペクトル測定