気液界面の全反射X線吸収分光

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本放射光学会の論文
• 2006-05-31

著者

• 谷田 肇

  JASRI SPring-8

• 谷田 肇

  高輝度光科学研究センター

• 谷田 肇

  財団法人高輝度光科学研究センター

• 谷田 肇

  Jasri

• 谷田 肇

  (財)高輝度光科学研究センター 利用促進部門

• TANIDA Hajime

  Japan Synchrotron Radiation Research Institute

• 谷田 肇

  (財)高輝度光科学研究センター

• 渡辺 巌

  大阪女子大学理学部

• Tanida Hajime

  Materials Sci. Div. Japan Synchrotron Radiation Res. Inst.

• Tanida Hajime

  Materials Science Division Japan Synchrotron Radiation Research Institute

• Tanida Hajime

  Experimental Facilities Division Japan Synchrotron Radiation Research Institute

• 渡辺 巌

  大阪府立大学大学院理学系研究科分子科学専攻

• 渡辺 巌

  阪大院理

• Tanida H

  Japan Synchrotron Radiation Research Institute

• Tanida Hajime

  Spring-8 Japan Synchrotron Radiation Research Institute (jasri)

関連論文

• 21aPS-94 チタン酸ストロンチウム薄膜の深さ分解XAFS(21aPS 領域10ポスターセッション(誘電体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 23pVE-5 La LおよびK吸収端X線吸収スペクトルでみるLa金属水素化物の電子状態(23pVE 格子欠陥・ナノ構造(光物性・微粒子・水素・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 17pYH-10 希薄磁性半導体(GaMn)NにおけるMnの局所構造と電子状態の解析-XAFS測定
• 27aUB-4 SmOs_4Sb_におけるSmイオンの価数の温度依存性(27aUB スクッテルダイト(Sm系,他),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
• MOSTABによる放射光X線ビームの安定化
• 23pPSB-1 レーザー・放射光同期による時間分解X線吸収分光(領域5ポスターセッション,領域5,光物性)
• X線反射率法によるイオン液体水溶液に含まれるCl[-]イオンの表面深さ方向分析
• 試料水平型X線反射率計の高度化と液体表面の構造解析
• SPring-8 に於けるピクセル検出器開発とX線分光分析への応用
• In-situ 時間分解XAFS法によるPt/C燃料電池触媒の起電過程の解明
• 硬X線分光XAFSビームライン(BL01B1)での研究
• A Possible Novel Magnetic Ordering in SmRu_4P_(Condensed matter: electronic structure and electrical, magnetic, and optical properties)
• A Possible Novel Magnetic Ordering in SmRu_4P_(Condensed matter: electronic structure and electrical, magnetic, and optical properties)
• DNA1分子の運動を追う
• 試料水平型X線反射率計の高度化と液体表面の構造解析
• 理研ビームラインII(BL44B2)の現状
• 生体試料のXAFS
• 電気化学反応と熱の出入り--ペルチエ効果と電気化学とのかかわり (熱と電気化学)
• 電極反応に伴う電極反応熱と電流の同時測定--掃引速度の高速化のための解析手法
• 4-8 X線吸収分光法(XAFS)と熱力学平衡モデルによる根圏土壌の重金属形態の解明(4.土壌物理化学・鉱物,2009年度京都大会)
• 4-3 土壌有機物によるヨウ素酸の形態変化(4. 土壌物理化学・鉱物, 2006年度秋田大会講演要旨)
• Local Structure around Mn in Ferromagnetic GaMnN Film Studied by X-Ray Absorption Fine Structure : Short Note
• 27pXD-4 高圧力下のXANES測定によるYb金属の価数決定(価数転移,少数キャリアー)(領域8)
• セラミックスや合金の転換電子収量XAFS(セラミック材料)
• スパッタ成膜した窒化物薄膜のHeイオン収量XAFS法による局所構造解析(セラミック材料)
• 19pYA-3 アンジュレータの特徴を生かしたXAFSの研究
• 23aYH-4 多素子SSDを用いた微量元素の蛍光X線ホログラフィー
• 全反射全転換電子収量X線吸収微細構造による水溶液表面でのイオンの溶媒和構造解析
• レーザーアブレーションボルタンメトリー(LAV)を用いたアニリンの酸化過程の検討
• The Mixed Valence States in the Unconventional Heavy Fermion Compound SmOs_4Sb_(Condensed matter: electronic structure and electrical, magnetic, and optical properties)
• 気液界面の全反射X線吸収分光
• 光電子を用いた水溶液表面のはかりかた
• 光電子放射分光法-その原理と溶液化学への応用-
• 大気圧Heイオン収量X線吸収微細構造法(XAFS)による薄膜試料の分析
• 4-8 XANESによる水田土壌中ヨウ素の形態変化の解明(4.土壌物理化学・鉱物,日本土壌肥料学会 2005年度大会講演要旨集)
• 溶液界面のX線分子構造解析
• シナピル及びコニフェニルアルコールのレーザーアブレーションボルタンメトリー
• レーザーアブレーションを用いる新しいボルタンメトリー
• 我々は社会にもっと貢献できるのではなかろうか?
• XAFSを用いた気液界面における単分子膜へのイオン吸着挙動
• Adsorption of 1-Decyl-3-methylimidazolium Bromide and Solvation Structure of Bromide at the Air/Water Interface
• Linearity of Radiophotoluminescence Glass Dosimeter Based on Monochromatic X-ray
• Mixed Low Energy Characteristics of Radiophotoluminescence Glass Dosimeter
• An Evaluation of Characteristics of Film Badge using Monochromatic X-ray
• Speciation of Tungsten in Natural Ferromanganese Oxides Using Wavelength Dispersive XAFS
• シンクロトロン放射光を用いたX線吸収スペクトル測定
• Spontaneous Dispersion of PdO onto Acid Sites of Zeolites Studied by in situ DXAFS
• Hydrogen Atom Position in Hydrated Iodide Anion from X-ray Absorption Near Edge Structure
• Extended X-ray Absorption Fine Structure of Copper(II) Complexes at the Air-Water Interface by a Polarized Total-Reflection X-ray Absorption Technique
• Dependence of EXAFS(Extended X-Ray Absorption Fine Structure) Parameters of Iodide Anions in Various Solvents upon a Solvent Parameter
• ソフト界面の分子膜の精密構造解析(1)X線吸収分光法 (特集 放射光・X線を用いたソフト界面分子膜の構造解析)
• Sub-Nanosecond Time-Resolved Structural Measurements of the Phase-Change Alloy Ge2Sb2Te5
• Thin-Thick Transition of Foam Film Driven by Phase Transition of Surfactant-Alkane Mixed Adsorbed Film
• 24aPS-55 高圧力下におけるYb金属の価数状態(24aPS 4f・5f電子系,重い電子系,領域8(強相関系分野-高温超伝導,強相関f電子系など))
• X-ray Reflectivity Measurements for Freezing Transitions of Alkane Wetting Film on Surfactant Solution Surface

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク