磁気力顕微鏡を用いた磁区構造解析技術の最近の動向
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概要
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Magnetic force microscope (MFM) has been widely used for research on nano-scale magnetic materials such as ultra-high-density recording media, magnetic random access memory, and spin-electronics devices. This paper reviews recent advances in magnetic force microscope technology that have resulted in the achievement of spatial resolutions of less than 10 nm, and discusses in-situ MFM observation in strong magnetic fields.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 2002-10-01
著者
-
斉藤 準
秋田大学工学資源学部
-
石尾 俊二
秋田大学工学資源学部
-
伊藤 弘高
秋田大
-
高星 英明
秋田大学工学資源学部
-
伊藤 弘高
秋田大学工学資源学部
-
高星 英明
秋田大学ベンチャ-・ビジネス・ラボラトリー
-
山岡 武博
セイコーインスツルメンツ(株)科学機器事業部
-
山岡 武博
SII
-
斉藤 準
秋田大 大学院工学資源学研究科
-
石尾 俊二
秋田大学工学資源学研究科
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