レーザアニール処理された磁性ガーネット薄膜の走査型プローブ顕微鏡による評価 (<特集>磁気光学・光磁気記録)

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概要

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• Surface damage and magnetic structured in laser-annealed magnetic garnet films were investigated by the use of scanning probe microscopes, i.e., Atomic Force Microscope (AFM), Magnetic Force Microscope (MFM), and Near-field Scanning Optical Microscope (NSOM). AFM images showed the atomidally flat surface of the laser-annealed region in which the growth-induced magnetic anisotropy was strongly reduced. MFM and NSOM images showed sharp changes in the direction of magnetization at the boundary between the laser-annealed region and nonlaser-annealed region. These results show that the laser-annealing technique is very useful for fabricating waveguide optical isolators.

• 社団法人日本磁気学会の論文
• 1997-04-15

著者

• 安藤 功兒

  電総研

• 千葉 淳弘

  筑波大学物理工学系

• 河島 整

  電子技術総合研究所

• 横山 侑子

  電子技術総合研究所

• 大成 誠之助

  筑波大学物理工学系

• 安藤 功見

  電子技術総合研究所

• 河島 整

  電総研

• 安藤 功児

  電総研

• 河島 整

  産業技術総合研究所 ネットワークフォトニクス研究センター

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