薄膜感熱記録ヘッドのパルス印加寿命特性
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概要
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Pulse repetition durability of an element resistor in a thin-film thermal printing head is studied. There are three main findings of this study. (1) Cr-Si-O heating element deterioration is induced by electromigration of resistor materials and element lifetime is influenced mainly by the temperature of the heating element. (2) The peak temperature of the resistor in the pulse repetition durability test in air is 10% higher than that for actual printing, so this test can be used as an overload test. (3) The maximum power for Cr-Si-O resistor durability is sufficiently higher than the power required for printing. Thus, use of a Cr-Si-O resistor ensures a reliable thermal printing head.
- 一般社団法人日本機械学会の論文
- 1996-09-25
著者
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渡邊 道弘
(株)日立製作所機械研究所
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佐藤 和恭
(株)日立製作所 機械研究所
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永田 達也
(株)日立製作所 機械研究所
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佐藤 和恭
(株)日立製作所機械研究所
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渡邉 道弘
(株)日立製作所機械研究所
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