完全密着形ラインイメージセンサの光学読取り特性
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概要
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結像光学系をもたない完全密着形ラインイメージセンサーの読取り性能を評価するために,専用の光学解析プログラムを作成し,完全密着形ラインイメージセンサの読取り特性を評価した.このプログラムは,センサを構成する材料を3次元直交座標系のX-Y平面に平行に配置した積層構造を取扱い,発散光源からの照明光の光路,材料界面での減衰,電極パターンによる遮光を計算し,任意のX-Y平面上の照度分布を求めることができる.このプログラムは大きく二つの手順からなっている.光源から原稿面に至る照明計算,原稿反射光がセンサ素子に至る照明計算である.更にこのプログラムは,原稿面での光の反射として表面反射のほかに,紙への光の浸透反射(ユール・ニールセン効果)を考慮できる.このプログラムを用いて解析した結果,完全密着読取り方式では分解能は原稿と受光素子間の距離に依存すると共に,紙質に強く依存することを明らかにした.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-01-25
著者
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渡邊 道弘
(株)日立製作所機械研究所
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清水 浩也
株式会社日立製作所機械研究所
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永田 達也
(株)日立製作所 機械研究所
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清水 浩也
(株)日立製作所機械研究所
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渡邉 道弘
(株)日立製作所機械研究所
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清水 浩也
株式会社日立製作所機械研究所第3部
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