走査トンネル顕微鏡による局所仕事関数の測定

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概要

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• 走査トンネル顕微鏡(STM)を用いて, 表面の仕事関数を局所的に測定し, そのナノスケールでの空間分布をイメージ化することができる. この方法を用いて銅(Cu)表面上に蒸着した金(Au)やパラジウム(Pd)薄膜の仕事関数が膜の厚さによってどう変化して本来の仕事関数値に近づいていくかを測定し, その振舞いが二つの元素で異なることを見出した. また, 表面ステップ局在する電子双極子モーメントに起因した表面ポテンシャルの凹みをイメージ化することに成功した.

• 1998-02-05

著者

• 長谷川 幸雄

  東大物性研

• 桜井 利夫

  東北大wpi

• 櫻井 利夫

  東北大学金属材料研究所

• 長谷川 幸雄

  東北大学金属材料研究所

• Jia J.f.

  東北大学金属材料研究所

• 櫻井 利夫

  東北大学際センター

• Jia Jin-feng

  Physics Department Beijing University

• Jin-Feng Jia

  東北大学金属材料研究所

• 井上 圭介

  東北大学金属材料研究所

• JIA Jin-Feng

  東北大学金属材料研究所

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