走査トンネル顕微鏡(STM)によるGaAs(001)表面の研究[I]

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概要

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• 日本表面科学会の論文
• 1999-04-10

著者

• 長谷川 幸雄

  東大物性研

• 橋詰 富博

  日立製作所基礎研究所

• 渡辺 洋右

  東北大金研

• 渡辺 洋右

  東北大学金属材料研究所

• 桜井 利夫

  東北大wpi

• 秋山 琴音

  東京大学物性研究所

• 櫻井 利夫

  東北大学金属材料研究所

• 薛 其坤

  東北大学金属材料研究所

• 長谷川 幸雄

  東北大学金属材料研究所

• 秋山 琴音

  東北大学金属材料研究所

• 櫻井 利夫

  東北大学際センター

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