SMTを用いた点接触法による表面電気伝導の測定
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概要
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Electrical conductance of point contacts between a metal tip and semiconductor surfaces has been measured with scanning tunneling microscope (STM) . The conductance depends strongly on the electronic structures of semiconductor surfaces. It also changes with a distribution of steps around its contact area. These results suggest that it is due to the conductivity via surface electronic states, that is, surface state conductivity.
- 日本結晶学会の論文
- 1995-10-31
著者
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