イオン衝撃及び焼俣しによるゲルマニウム表面の格子欠陥 : 半導体

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1961-04-03

著者

• 杉山 耕一

  通研

• 小林 秋男

  通研

• 小林 秋男

  電気通信研

• 杉山 耕一

  電気通信研

• 織田 善次郎

  電気通信研

• 荒田 光

  電気通信研

• 織田 善次郎

  通研

• 荒田 光

  通研

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