インピーダンスプローブによる磁気圈・電離層観測

概要

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ロケット搭載用周波数掃引型インピーダンスプローブとして,ジャイロ・プラズマプローブは,プラズマ中のアンテナ・インピーダンスの共鳴特性の周波数スペクトルを測定するために開発された.観測された高域ハイブリッド共鳴周波数より,電子密度は,測定誤差±1%という高精度で求まり,また,電子温度も,低周波のインピーダンス値より求めることができた.1965年より1969年まで,8回の観測が行なわれ,種々の磁気圈・電離層プラズマの物理現象が見い出された.(I)80km〜1800kmの電子密度分布,(ii)電離層の有効再結合係数,(iii)ロケット航訪中での電子密度のじょう乱,(iv)高域ハイブリッド共鳴のQ値の減少と静電振動波の放射,(v)変形プラズマ共鳴の検出,(vi)冬季電離層電子密度分布の日変化,(vi)冬季HF電波異常吸収に伴なうD層,E層の電子密度・温度の上昇,(viii)サイクロトロン共鳴の第2高調波の検出等.この論文では,上記諸現象の概要と,K-8-15号機によって得られた観測結果について論ずる.また,将来計画についても言及する.
宇宙航空研究開発機構の論文