SiP実装半導体デバイス内部のマイクロスケール熱抵抗評価手法の開発 : 周期加熱サーモリフレクタンス法の適用

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概要

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• 2008-10-08

著者

• 長坂 雄次

  慶應義塾大学理工学部

• 長坂 雄次

  慶大理工

• 秋葉 洋

  慶大院

• 岸本 匡弘

  慶大院

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