原子間力顕微鏡(AFM)を用いた高分子膜表面に働く相互作用引力の実測と解析
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概要
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- 2004-07-27
著者
-
河合 晃
長岡技科大 電気系
-
河合 晃
長岡技術科学大学工学部電気系
-
Kawai A
Mitsubishi Electric Corp. Hyogo
-
Kawai A
Okayama Univ. Graduate School Of Medicine And Dentistry Okayama
-
新山 雄俊
長岡技科大 電気系
-
河合 晃
長岡技科大・工
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